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Santec的插回損測試儀(RLM-100)匯集了20年作為電纜組件測試市場領(lǐng)導(dǎo)者的行業(yè)反饋。該設(shè)備代表了下一代光學(xué)IL/RL測量技術(shù)。對關(guān)鍵硬件組件的改進使其在保持相同精度的同時,測試速度比其他高端測試解決方案快兩倍。
MS12插回損測試儀是工業(yè)上應(yīng)用最廣泛的插入損耗和免纏繞回波損耗測量方案。為光纜組件和光學(xué)元件提供準確、可靠和可追蹤的結(jié)果。
MS12平臺與光纖市場的領(lǐng)導(dǎo)者密切合作,為滿足關(guān)鍵光纖測試需求而量身定制。內(nèi)部監(jiān)控功能可保持激光穩(wěn)定性,以便進行可靠的插入損耗測試。內(nèi)部回波損耗基準有
助于高精度的多模和單模回波損耗測量精度。多模MS12回波損耗表符合IEC-61280-4-1環(huán)型通量標準。