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OBR4600是LUNA公司獲獎產(chǎn)品背光反射計的最新型號。專用于器件和短期網(wǎng)絡(luò)的測試及故障定位,OBR4600具有背光水平的靈敏度,從而獲得超高分辨率。高達(dá)10微米的空間分辨率、零死區(qū)、集成溫度和應(yīng)力探測及加長模式,OBR4600提供了無可比擬的光纖測試能力。
Luna 6415光器件分析儀采用光頻域反射技術(shù)(OFDR),通過探測背向瑞利散射光或者透射光獲取其與距離的函數(shù)關(guān)系。Luna 6415作為光子集成電路和硅光芯片的理想分析儀,得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)。Luna6415單臺儀器通過選擇反射或者透射模式就能完成IL、RL、長度等所有測試,大大降低了測試成本,同時簡化了測試流程。相比其它測試系統(tǒng),將大大增加測試產(chǎn)量。