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AXISTEC 耦合臺(tái)一款完全集成的光電測(cè)試儀,專為高精密光學(xué)和電學(xué)測(cè)量。支持晶圓芯片邊緣和垂直光柵耦合,使晶圓和芯片級(jí)測(cè)試具有強(qiáng)大的安全功能。針對(duì)大規(guī)模生產(chǎn)進(jìn)行了優(yōu)化,并具有足夠的研發(fā)靈活性,將自動(dòng)化與先進(jìn)光子學(xué)應(yīng)用的適應(yīng)性相結(jié)合。